功能系統(tǒng)
功能測(cè)試Valid系列能夠滿足當(dāng)下甚至是未來的軍事和航空電子設(shè)備要求。硬件和軟件工具的靈活性使其能夠以多種配置提供測(cè)試解決方案，覆蓋三級(jí)測(cè)試需求（工廠級(jí)和倉庫級(jí)），以及二級(jí)需求（中間級(jí)）和一級(jí)需求（操作級(jí)）。
例如，ValidATE系統(tǒng)已成功用于測(cè)試EFA 2000臺(tái)風(fēng)戰(zhàn)斗機(jī)和陣風(fēng)戰(zhàn)斗機(jī)等國防電子設(shè)備，并被Spherea測(cè)試和服務(wù)公司（前EADS Cassidian測(cè)試和服務(wù)公司）用作ATEC-MT測(cè)試儀的核心部件。
Valid系列是終極的集成化功能測(cè)試解決方案，能夠在工廠和現(xiàn)場環(huán)境中，滿足并超越模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)以及混合信號(hào)測(cè)試的要求，覆蓋板級(jí)（SRA/SRU）和設(shè)備級(jí)（LRA/LRU）測(cè)試。
Valid系列得益于Seica在測(cè)試復(fù)雜類型的電路板和組件方面的卓越經(jīng)驗(yàn)，采用先進(jìn)的DSP和 FPGA驅(qū)動(dòng)的數(shù)字技術(shù)，是一整套經(jīng)過驗(yàn)證的測(cè)試生成、調(diào)試和診斷解決方案。
Valid系列在成功替換過時(shí)的功能測(cè)試設(shè)備方面擁有經(jīng)過驗(yàn)證的出色記錄，包括從GR179X到GR275X、從L200到L300、從S720到S790以及用于設(shè)備級(jí)測(cè)試和驗(yàn)證的定制化STE。
Valid系列提供最佳的測(cè)試導(dǎo)向激勵(lì)和測(cè)量專用硬件，并且容易進(jìn)行擴(kuò)展，以整合GPIB、LXI和VXI COTS解決方案。在強(qiáng)大的測(cè)試導(dǎo)向環(huán)境（VIVA）下運(yùn)行，該系統(tǒng)還可以完全由其他測(cè)試序列器（如N.I. TestStand或Agilent VeePRO）控制，并/或結(jié)合使用多種編程語言（如C++、VBS）以及編程環(huán)境（如LabWindows/CVI、LabView等）。
